MEB Iris
NewTec 引入了相关显微镜的新概念，通过在 SEM 室内安装宏观显微镜，光学和电子图像通过结构是同轴的。
样品保持静止，无需重新对齐点或标记。由于机械设计，图像重新定位总是小于像素大小，随意从光学模式切换到电子模式，可选的电动变焦和聚焦。
样品保持静止，无需重新对齐点或标记。由于机械设计，图像重新定位总是小于像素大小，随意从光学模式切换到电子模式，可选的电动变焦和聚焦。
拉伸试验期间的光学图像：样品的宏观视图
拉伸试验期间的 SEM 图像悬垂： 样品中心的纳米级视图
拉伸试验期间的 SEM 图像悬垂： 样品中心的纳米级视图
IRIS 系统
法兰上的后视镜机动化 SEM 载物台上的电动化
MEB IN – Optique 关闭 MEB 关闭 – Optique IN
SEM 图像 光学图像
法兰上的后视镜机动化 SEM 载物台上的电动化
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