便携式残余应力分析仪
我司研发的光子计数X 射线残余应力仪，是一款准确、快捷的表面应力测量装置。该产品基于cosα法测量应力，采用先进的二维光子计数半导体探测器，能够在一次曝光中对采集的德拜环上进行采样，并自动计算出测量点的表面应力，其测量结果精度高、重复性好，测试速度快，具有明显的优势。
光子计数X射线探测技术具有零暗噪声、高空间分辨率、高动态范围、高线性度、可实现能量分辨等诸多优势，该技术可以广泛应用在对性能要求较高的X射线成像领域，是公认的下一代X射线成像技术。
1、快速
•采用面探测器，只需一次曝光即可获得数据
•单次检测耗时不超过4分钟
2、准确
3、轻便2、准确
•检测精度可达10MPa
•无需测角仪和多次曝光，整机系统简便紧凑
•结构轻便，整机仅8kg
4、灵活
4、灵活
•体积小，适用各类场景，不再受实验室空间限制
•适用于快速巡检
